1 | 直流增益 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3076.1 | 只测: 1~50000 |
2 | 集射极饱和压降 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3071 | 只测: 0~1250A |
3 | 集射电极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3041.1 | 只测: 0~100mA |
4 | 集基电极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3036.1 | 只测: 0~100mA |
|
|
1 | 直流增益 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3076.1 | 只测: 1~50000 |
2 | 集射极饱和压降 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3071 | 只测: 0~1250A |
3 | 集射电极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3041.1 | 只测: 0~100mA |
4 | 集基电极关态电流 | 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3036.1 | 只测: 0~100mA |
公司基本资料信息
|
最新供应信息 |
最新求购信息 |
最新展会信息 |